高分辨率平板探测器 X 射线 CMOS成像板,F2923 为二维 CMOS X 射线平板探测器,具有高分辨率、 低噪声、大面阵、高帧率和宽动态范围等特点。综合应用派登斯的 CMOS 图像传感器设计技术及 ADC 集成一体化方案,产品结构紧凑,技术性能优良?;谄淇煽啃愿?、 易于集成等特点,可有效降低在苛刻环境中、重负荷应用下 对成像系统的校准和维护要求。
OmniScan SX便携式探伤仪存储装置SDHC卡,或大多数标准USB存储设备*数字化频率100 MHz100 MHz *为了获得好结果,建议使用Lexar®存储卡。
便携式探伤仪IP评级根据IEC 60529-2004标准(外壳防护等级–IP规范),仪器设计符合侵入?;て兰侗曜迹篒P67(防尘且可短时浸入水中)和IP65 (防尘且可经受水喷)。
OmniScan MX2相控阵探伤仪电池数量1节或2节电池(电池舱内可容纳两个热插拔电池)。
相控阵探伤仪UT通道:8个低通、6个带通和4个高通滤波器(当配置为TOFD时,为3个低通滤波器)
NORTEC 600便携式涡流探伤仪滤波FIR低通、FIR高通、FIR带通、FIR带阻(截止频率可调)、中值滤波器(在2点~200点之间变化)、平均滤波器(在2点~200点之间变化 )
MultiScan MS5800便携式涡流探伤仪所支持的探头支持所有带单励磁器、双励磁器、双拾波器,以及使用近场技术和漏磁技术的差分式和式探头。(可能需要适配器线缆)
便携式涡流探伤仪采集速率1 Hz~15 kHz(单线圈中)。 速率可由仪器处理能力限制,或通过多路激发模式的延迟设定所限制。